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力學(xué)樣品臺的詳細介紹

更新時間:2021-04-19      點擊次數(shù):1706
  SEM力學(xué)樣品臺是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺的基礎(chǔ)上設(shè)計力學(xué)控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭,在掃描電鏡內(nèi)可直接觀察納米機械測試,不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像,而且同時可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。

  在使用SEM力學(xué)樣品臺實驗時,用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現(xiàn)樣品拉伸實驗,或者選擇加熱模塊可實現(xiàn)熱場和力場耦合實驗,加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式(RT-1000℃,1K),或者選擇加電模塊(*大電壓±50V,電流范圍: pA~mA )。SEM力學(xué)樣品臺可以應(yīng)用的范圍有:

  1、材料力學(xué)研究
  
(1)力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究

  (2)位錯卒發(fā)研究

  (3)應(yīng)力下的晶相轉(zhuǎn)變研究

  (4)納米線、納米球的力學(xué)測試,剪切帶或者斷裂發(fā)生

  (5)材料失效分析

  2、材料力學(xué)測試
  
(1)壓痕測試

  (2)拉伸測試(配拉伸臺)

  (3)納米壓痕測試

  (4)納米劃痕測試

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