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透射電鏡液體電化學(xué)原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對液體薄層或納米電池系統(tǒng)施加電信號等，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測電極、電解液及其界面在工況下的微觀結(jié)構(gòu)演化、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、相變、元素價(jià)態(tài)、化學(xué)變化、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡液體升溫原位系統(tǒng)采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建液氛納米實(shí)驗(yàn)室，通過MEMS芯片加熱，結(jié)合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測樣品在液氛環(huán)境中隨溫度變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)演化、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、相變、元素價(jià)態(tài)、化學(xué)變化、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡液體光學(xué)原位系統(tǒng)采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建液氛納米實(shí)驗(yàn)室，通過樣品臺內(nèi)置的光纖將光作為外場條件搭載其上，通過MEMS芯片和光纖引入的光源對樣品施加光場刺激條件……

掃描電鏡液體電化學(xué)原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對薄層或納米電池系統(tǒng)施加電信號等，結(jié)合EDS等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測電極、電解液及其界面在工況下的微觀結(jié)構(gòu)演化、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、相變、化學(xué)變化、表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡雙傾熱電原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建熱、電復(fù)合多場自動(dòng)控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、電場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿通過一系列的不同傾斜角獲得樣品的二維成像信息,并對其進(jìn)行處理轉(zhuǎn)化為三維信息，該樣品臺可直接組裝直徑3 mm的銅網(wǎng)樣品，不僅可進(jìn)行樣品的三維重構(gòu)，還可用于樣品材料的掃描透射模式下高角環(huán)形暗場成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。