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TEM氣體加熱樣品桿是通過MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）微加工工藝，在透射電鏡內(nèi)部搭建可視化NANO-LAB（納米實驗室）和四電極反饋控溫模塊，加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域，升溫快、熱場穩(wěn)定且均勻，實現(xiàn)樣品的氣氛環(huán)境皮米級高分辨成像和精準(zhǔn)、均勻、安全控溫。設(shè)備的氣體流道采用惰性材料防腐設(shè)計，進(jìn)氣采用納流體微分控制方式，可以有效防止?jié)B漏，革命性提升原位設(shè)備安全性，保障實驗過程電鏡安全。對應(yīng)電鏡原位觀察而言，可觀察范圍基本在微米級別，整體可觀察體積小于納升，因此過量氣體對實驗毫無幫助，且引入巨...

TEM固體超高溫加熱樣品桿是針對納米材料超高溫性能研究所開發(fā)的一款性價比高的原位產(chǎn)品，可對樣品進(jìn)行超高溫加熱，并保持較高的加熱精度。TEM固體超高溫加熱樣品桿是在標(biāo)準(zhǔn)樣品桿的基礎(chǔ)上搭載高溫加熱模塊，能夠?qū){米粉體材料進(jìn)行超高溫加熱，*高溫度1500℃。高溫加熱模塊拆卸和組裝方便快捷，性價比高。另外，為了方便科研人員尋找合適樣品和觀察樣品加熱過程的變化，超新芯設(shè)計了具有多個平坦的樣品承載平臺的方形彈簧加熱元件，通過該設(shè)計，可極大地提高實驗效率。樣品桿加熱模塊采用具有耐高溫且惰性...

SEM力學(xué)樣品臺是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺的基礎(chǔ)上設(shè)計力學(xué)控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭，在掃描電鏡內(nèi)可直接觀察納米機(jī)械測試，不僅可以對納米材料進(jìn)行機(jī)械擠壓的成像，而且同時可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。在使用SEM力學(xué)樣品臺實驗時，用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現(xiàn)樣品拉伸實驗，或者選擇加熱模塊可實現(xiàn)熱場和力場耦合實驗，加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式（RT-1000℃，1K），或者選擇加電模塊（*大電壓±50V，電流范圍：pA~mA）...

SEM液體電化學(xué)樣品臺是通過MEMS微加工工藝，在標(biāo)準(zhǔn)的掃描電鏡樣品臺基礎(chǔ)上設(shè)計電路，搭建可視化NANO-LAB和電學(xué)控制模塊，配合外接法蘭可與電化學(xué)工作站連接通信。原位掃描電化學(xué)反應(yīng)系統(tǒng)在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺內(nèi)置三電極電學(xué)模塊，可在掃描電鏡中實現(xiàn)液體樣品的電化學(xué)反應(yīng)過程的實時動態(tài)成像。SEM液相電化學(xué)樣品臺可以同時對四個液體樣品（三個靜態(tài)和一個流體）進(jìn)行觀察，每個樣品都被密封在各自的芯片內(nèi)，且互不影響。芯片采用與原位透射電子顯微系統(tǒng)一樣的上下兩片芯片，通過鍵合內(nèi)封和環(huán)氧樹脂外封與電鏡...

TEM原位液體樣品桿是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，TEM原位液光學(xué)樣品桿是在原位與液體桿的基礎(chǔ)上內(nèi)置光學(xué)模塊，實現(xiàn)在液體環(huán)境中進(jìn)行加光研究。超新芯為原位液體電鏡應(yīng)用提供了一個納升級別液體封裝的原位池容器（Chips）,可確保電鏡的使用安全。在使用時，液體樣品會被封裝在樣品臺支架尖的端微液體池中，通過鍵合內(nèi)封和環(huán)氧樹脂外封與電鏡的真空分隔。在多外場的作用下實現(xiàn)對液態(tài)環(huán)境中納米材料的物理、化學(xué)特性的原位動態(tài)表征。實現(xiàn)液相反應(yīng)的原位TEM原子級高分辨成像。TEM液體光學(xué)樣...