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簡要描述:透射電鏡力電原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng),結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關鍵信息。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
力學性能
1.高精度壓電陶瓷驅(qū)動,納米級別精度數(shù)字化精確定位。
2.可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。
3.nN級力學測量噪音。
4.具備連續(xù)的載荷-位移-時間數(shù)據(jù)實時自動收集功能。
5.具備恒定載荷、恒定位移、循環(huán)加載控制功能,適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。
優(yōu)異的電學性能
1.芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。
2.MEMS微加工特殊設計,電場和力學加載同時進行,相互獨立控制。
智能化軟件
1.人機分離,軟件遠程控制納米探針運動。
2.自動測量載荷-位移數(shù)據(jù)。
類別 | 項目 | 參數(shù) |
基本參數(shù) | 桿身材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
控制方式 | 高精度壓電陶瓷 | |
傾轉(zhuǎn)角 | α≥±20°,傾轉(zhuǎn)分辨率<0.1°(實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號) | |
適用電鏡 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP 適用極靴 | |
(HR)TEM/STEM | 支持 | |
(HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
鎢納米柱原位力學壓縮過程
鎢納米柱受力發(fā)生彈性形變過程中,彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結(jié)構(gòu)材料應用的關鍵特征,位錯在調(diào)控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色,一般來說,位錯滑移越難,材料的強度就越大,而第二相常用來阻礙位錯運動以提高材料強度。例如,陶瓷相可以用于金屬強化,因為基體與第二相之間彈性模量的巨大差異和嚴重的界面失配能夠起到金屬材料強化的作用,遺憾的是硬的第二相一般是在犧牲延展性的條件下實現(xiàn)了強化作用。此外,界面處嚴重的位錯塞積可能會導致局部的應力集中,導致材料在服役過程中突然失效。從本質(zhì)上講,既需要第二相阻止位錯的運動,還要一定程度上兼容位錯滑移的可塑性。通過原位力學測試,可以更方便研究材料界面應變場變化以達到優(yōu)化復合材料的強度和塑性的目的。
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