透射電鏡雙傾探針電學原位系統(tǒng)

簡要描述：透射電鏡雙傾探針電學原位系統(tǒng)通過納米探針對樣品施加電場控制，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2023-12-27
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納米探針操縱系統(tǒng)

1．高精度壓電陶瓷驅(qū)動，納米級別精度數(shù)字化精確定位。

2．可對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學測量。

優(yōu)異的電學性能

特殊設計保證電學測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。

智能化軟件

1．人機分離，軟件遠程調(diào)節(jié)電學條件，程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度。

2．全程自動記錄實驗細節(jié)數(shù)據(jù)，便于總結(jié)與回顧。

技術(shù)參數(shù)

類別	項目	參數(shù)
基本參數(shù)	桿體材質(zhì)	高強度鈦合金
	控制方式	高精度壓電陶瓷
	傾轉(zhuǎn)角	α≥±20°，β≥±20°（實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號）
	適用電鏡	Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
	適用極靴	ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
	(HR)TEM/STEM	支持
	(HR)EDS/EELS/SAED	支持

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